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系統識別號 U0002-2908200612592900
中文論文名稱 BiCaSrCuO非晶相製程之研究
英文論文名稱 Fabrication of the amorphous BiCaSrCuO
校院名稱 淡江大學
系所名稱(中) 物理學系碩士班
系所名稱(英) Department of Physics
學年度 94
學期 2
出版年 95
研究生中文姓名 陳明全
研究生英文姓名 Ming-Chuan Chen
學號 692180648
學位類別 碩士
語文別 中文
口試日期 2006-07-26
論文頁數 60頁
口試委員 指導教授-錢凡之
委員-林大欽
委員-謝輝煌
中文關鍵字 Bi-Ca-Sr-Cu-O  非晶態  超導體 
英文關鍵字 Bi-Ca-Sr-Cu-O  amorphous  superconductive 
學科別分類 學科別自然科學物理
中文摘要 本論文主要是設計新的製程方法,把原本平放的高溫爐直立,並加裝封頭,使焠冷的時間得以藉由人為控制而改變,並且可以在樣品燒結時通入不同的氣體,有助於對樣品的分析。
而研究系統是以Bi-Ca-Sr-Cu-O為主,用新的製程方法,改變焠冷的速率並通入不同含氧量的氣體,研究其焠冷的速率與含氧量對應Bi-Ca-Sr-Cu-O系統非晶態的生成與其超導電性之關係。
英文摘要 The thesis is mainly based on a newly designed process which helps us analyze the sample. We upright the high temperature furnace, and seal it with a copper cap. The quench rate is manipulated artificially. Also, we fill the furnace with different gases while the sample is sintered.
Bi-Ca-Sr-Cu-O system has the amorphous state and the superconducting phase. The research uses a new process based on Bi-Ca-Sr-Cu-O system to find out the relation between the amorphous state and superconducting phase by shortening the quench rate and filling the furnace with different Oxygen content gases.
論文目次 目錄

第一章 緒論..............................................1
   1.1 前言…………………………………………………………1
1.2 實驗背景與動機 …………………………………………..3
第二章 量測系統..........................................4
2.1 X-Ray繞射儀………………………………………………4
2.2高溫爐………………………………………………………4
2.3 低溫電阻量測系統………………………………………...5
2.4穿透式電子顯微鏡…………………………………………7
第三章 高溫爐改裝前之樣品製程…………………………………..11
3.1 配粉………………………………………………………..11
3.2 樣品的高溫燒熔級及焠冷凝結…………………………..11
3.3 樣品的低溫補氧…………………………………………..11
第四章 高溫爐改裝前之數據分析.......................... 11
4.1 樣品之結構分析…………………………………………..13
4.2 樣品之電性分析.................................15
第五章 高溫爐改裝與改裝後之樣品製程 …………………………16
5.1 高溫爐(I)的改裝…………………………………...............16
5.2 高溫爐改裝後之樣品製程……..………………………….18
第六章 高溫爐改裝後之數據分析...........................26
6.1 改裝後樣品之結構分析…………………………………..26
6.2 改裝後樣品之電性分析...........................29
第七章 結果討論 ……………………………………………………30
7.1 樣品之TEM之討論…………………………………........30
7.2樣品結構之討論……..……………………………………..31
7.3樣品電性之討論…...……………………………………….32
參考文獻………………………………………………………………..60
圖表目錄
表(4.1). BixSrCaCu2Oδ......................................13
表(4.2). 實驗變因(350oC)..................................14
表(4.3). 實驗變因(400oC)...................................14
表(4.4). 實驗變因(450oC)...................................14
表(6.1). 實驗變因(純Ar)....................................27
表(6.2). 實驗變因(10%O2+79%N2)............................27
表(6.3). 實驗變因(21%O2+79%N2)............................27
表(6.4). 實驗變因(純O2)....................................27
表(6.5). 實驗變因(純Ar)....................................28
表(6.6). 實驗變因(10%O2+79%N2)...........................28
表(6.7). 實驗變因(21%O2+79%N2)...........................28
表(6.8). 實驗變因(21%O2+79%N2)...........................28
圖(2.1). 穿透式電子顯微鏡結構圖...........................9
圖(2.2). 電子束A形成繞射圖形及B影像路徑圖................10
圖(4.1). Bi1.5SrCu2OδX-Ray繞射圖............................33
圖(4.2). Bi2Sr2CuO6 X-Ray繞射圖.............................34
圖(4.3). Bi2Sr6O11 X-Ray繞射圖..............................35
圖(4.4). BixSrCu2OδX-Ray繞射圖.............................36
圖(4.5). Bi1.5SrCaCu2OδX-Ray非晶相結構......................37
圖(4.6). BixSrCu2OδX-Ray繞射圖.............................38
圖(4.7). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖...........................39
圖(4.8). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖...........................40
圖(4.9). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖....................49
圖(4.10). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖...................49
圖(4.11). Bi1.6SrCaCu2Oδ磁化強度對溫度關係圖................50
圖(4.12). Bi1.6SrCaCu2Oδ不同電流之電阻率與溫度關係圖........50
圖(5.1a)圖(5.1b)直立的高溫爐(I)……………………………………20
圖(5.2a)圖(5.2b)封頭的第一部份……………………………………21
圖(5.3a)圖(5.3b) 封頭的第二部份……………………………………22
圖(5.4)卡榫及不銹鋼棒………………………………………………23
圖(5.5)卡榫及不銹鋼棒與第二部份接合後…………………………23
圖(5.6a)冷卻基座………………………………………………………24
圖(5.7) 高溫爐(I)改裝設計圖…………………………………………25
圖(6.1). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖...........................41
圖(6.2). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖...........................42
圖(6.3). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖...........................43
圖(6.4). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖.........................44
圖(6.5). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖.........................45
圖(6.6). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖.........................46
圖(6.7). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖.........................47
圖(6.8). BixCaSrCu2OδX-Ray繞射圖.........................48
圖(6.9). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖...................51
圖(6.10). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖..................51
圖(6.11). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖..................52
圖(6.12). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖..................52
圖(6.13). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖..................53
圖(6.14). BixSrCaCu2Oδ電阻率對溫度變化圖..................53
圖(6.15). Bi1電阻率比較圖.................................54
圖(6.16). Bi1.25電阻率比較圖................................54
圖(6.17). Bi1.4電阻率比較圖................................55
圖(6.18). Bi1.5電阻率比較圖................................55
圖(6.19). Bi1.6電阻率比較圖................................56
圖(6.20). Bi1.75電阻率比較圖...............................56
圖(6.21). Bi2電阻率比較圖.................................57
圖(7.1). Bi1.25SrCaCu2Oδ之TEM影像、擇區繞射及XRD比較
圖.......................................................58
圖(7.2). Bi1.5SrCaCu2Oδ之TEM影像、擇區繞射及XRD比較圖.....59
參考文獻 參考文獻
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