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系統識別號 U0002-2907200815573700
DOI 10.6846/TKU.2008.01050
論文名稱(中文) 鎵於錳位置的摻雜對La0.85Zr0.15MnO3載子傳輸機制與磁電阻的影響
論文名稱(英文) Effect of Ga substitution at the Mn site on transport mechanism and magnetoresistance of La0.85Zr0.15MnO3
第三語言論文名稱
校院名稱 淡江大學
系所名稱(中文) 物理學系碩士班
系所名稱(英文) Department of Physics
外國學位學校名稱
外國學位學院名稱
外國學位研究所名稱
學年度 96
學期 2
出版年 97
研究生(中文) 鄭景鴻
研究生(英文) Jing-Hung Cheng
學號 694180174
學位類別 碩士
語言別 繁體中文
第二語言別
口試日期 2008-06-30
論文頁數 108頁
口試委員 指導教授 - 林大欽
委員 - 杜昭宏
委員 - 林昭吟
關鍵字(中) 小偏極子躍遷
電子-磁振子散射
變程躍遷
關鍵字(英) small-polaron hopping
electron-magnon scattering
variable-range-hopping
第三語言關鍵字
學科別分類
中文摘要
我們有系統地對於La0.85Zr0.15Mn1-xGaxO3的多晶塊材樣品(LZMGO)進行結構、電性ρ(T)、磁性M(T)與熱電性質S(T)的研究。結構分析顯示隨著Ga摻雜量的增加,系統的 Mn-O-Mn 鍵角遞減,而Mn-O鍵長遞增,意味著Ga的摻雜使得LZMGO中的MnO6錳氧八面體被扭曲,晶格尺寸因而縮小,減弱了Mn2+-O-Mn3+間的雙交換作用。因此,系統的居禮溫度(TC),金屬-絕緣轉變溫度(TMI)皆隨著 Ga摻雜量的增加往低溫移動,伴隨著在H=5T時最大磁阻比值,隨Ga摻雜量的增加從45%增加至55%。在TMI附近,系統的 S(T)出現一個隨著Ga摻雜量增加而遞增的峰值,主要成因來自於系統中載子與磁振子的交互作用隨著Ga摻雜量增加而漸增,以及系統自旋組態亂度在溫度稍低於TMI時的降低。在更低溫區域,當T<T*時,LZMGO的ρ(T)呈現類絕緣體的行為且 S(T)的值變得很小。仔細地分析ρ(T)與S(T)的數據發現在高溫(T>TMI)、中溫(T*<T<TMI)、低溫(T<T*)區域,分別為小偏極子躍遷、電子-磁振子散射與三維的變程躍遷來主導載子的傳輸性質。在高溫順磁區域,小偏極子的躍遷距離隨著Ga摻雜量增加而遞減;其活化能隨著Ga摻雜量增加而遞增,顯示小偏極子的形成與 MnO6八面體因Ga摻雜所產生的扭曲有密切的關係。 在中溫鐵磁區域,由於Ga的摻雜降低了系統中自旋波的剛性,提昇了載子與磁振子散射的機率,因而主宰了此溫區的載子傳輸機制。在低溫絕緣區域,Ga3+離子無序地分佈所建立的無規式位能井,造成LZMGO的侷域態呈現無規的分布。因此,載子的傳輸是以三維的變程躍遷方式來進行的。
英文摘要
Structural properties, temperature-dependent resistivity (T), temperature-dependent magnetization M(T), and thermoelectric power S(T) of La0.85Zr0.15Mn1-xGaxO3 (LZMGO) manganites with 0.0 x 0.06 were extensively investigated. It was found that the Mn-O-Mn bond angle decreases and the Mn-O bond length increases with increasing the Ga content, indicative of a significant distortion of MnO6 octahedra in LZMGO. Both Curie temperature (TC) and metal-insulator transition temperature (TMI) shift toward lower temperatures accompanied by an increase of maximum magnetoresistance ratio in H = 5 T from 45% to 55% as the Ga content increases. A anomalous peak observed in S(T) attributed to an enhancement of electron-magnon interaction caused by the Ga doping and a decrease of magnetic entropy near TMI. (T)of the system exhibits an insulating-like behavior with a relatively small value of S(T) below T* at low temperatures. Three different charge transport mechanisms were identified for LZMGO in three temperature regions based upon detailed analyses of (T) and S(T) data.The small-polaron hopping mechanism governs the charge transport in the high-temperature paramagnetic region (T > TMI).It should be noted that the polaron binding energy determined from the (T) and S(T) data increases with an increase in the Ga content, suggesting that the Ga-doping-induced local lattice distortion of the MnO6 octahedra predominately involves with the small-polaron formation in LZMGO.In addition, the electron-magnon scattering predicted for an itinerant ferromagnet dominates the charge transport in the intermediate-temperature metallic region (T* < T < TMI), whereas the transport behavior in the low-temperature insulating region (T < T*) can be described by the three-dimensional variable-range-hopping model as a result of random potential at Mn-site arising from Ga doping.
第三語言摘要
論文目次
中文摘要 …………………………………………………………… i
英文摘要 ………………………………………………………… ii
目錄 ……………………………………………………………… iii
圖目錄 …………………………………………………………… vi
第零章 緒論 ……………………………………………………… 1
第一章 研究背景 ………………………………………………… 4
     龐磁阻(CMR)材料之歷史背景簡介  ………………………… 4
第二章 理論基礎 ……………………………………………… 12
  2-1 雙交換機制 (double exchange) …………………… 12
  2-2  楊-泰勒效應(Jahn-Teller effect)  ……………… 17
  2-3  變程躍遷模型 (Variable Range Hopping Model )  20
  2-4  小極化子躍遷模型(Small Polaron Hopping Model)  23
  2-5  電子-磁振子散射(electron-magnon scatting) …… 26
  2-6  席貝克效應(Seebeck effect) ……………………… 28
第三章 樣品製備 ……………………………………………… 32
  3-1 化學藥品之準備 ……………………………………… 32
  3-2 樣品製作 ……………………………………………… 32
第四章 實驗裝置與量測系統 ………………………………… 37
  4-1 高溫爐 ………………………………………………… 37
  4-2 X-ray繞射儀 ………………………………………… 38
    4-2-1 X-ray基本原理簡介 …………………………… 38
    4-2-2 X-ray粉末試片準備 …………………………… 39
    4-2-3 GSAS晶算法 ………………………………… 40
  4-3 自製變溫電阻量測系統 ……………………………… 42
    4-3-1 變溫電阻量測 ………………………………… 42
    4-3-2 低溫電阻量測系統各項儀器說明 …………… 44
    4-3-3 量測線路與注意事項 ………………………… 48
  4-4 物理性質量測系統PPMS …………………………… 49
    4-4-1 PPMS杜瓦瓶 ………………………………… 49
    4-4-2 PPMS壓力控制 ……………………………… 51
    4-4-3 液態氦容量測量 ……………………………… 51
    4-4-4 PPMS溫度控制 ……………………………… 53
    4-4-5 PPMS磁場控制 ……………………………… 58
    4-4-6 振動樣品磁性量測儀 ………………………… 60
    4-4-7 熱傳輸性質量測儀 ………………………… 68
第五章 實驗結果與討論 ……………………………………… 71
  5-1 X-Ray精算分析 ……………………………………… 71
  5-2 樣品之磁性分析 ……………………………………… 78
  5-3 樣品之電性分析 ……………………………………… 82
  5-4 樣品之熱電分析 ………………………………………  95
第六章 結論 …………………………………………………… 105
參考文獻 ………………………………………………………… 107

圖目錄 
【圖1-1】( La, Ca )MnO3材料在尼爾溫度以下之自旋結構 …… 5 【圖1-2】( La, Ca )MnO3系列化合物之相圖 …………………… 6 【圖1-3】(La1-xAx)MnO3 (A = Sr、Ca…)化合物三種不同結構 7 
【圖1-4】 不同價電數之Mn原子的傳導示意圖 ………………… 8 【圖1-5】 La0.7Sr0.3MnO3多晶塊材之溫度與電阻的關係圖 …10 
【圖2-1】MnO6 所形成之八面體結構圖 ……………………… 13 【圖2-2】根據罕德定則電子3d軌域的排列方式圖 …………… 13 【圖2-3】龐磁阻之雙交換機制示意圖 ………………………… 15 【圖2-4】電子自旋方向與躍遷機率之關係圖 ………………… 16 【圖2-5】錳氧八面體的扭曲方式圖 …………………………… 17 【圖2-6】 t2g能帶、eg能帶的能階分裂方式圖 ……………… 18 【圖2-7】Mn的3d軌域分裂情形示意圖 ……………………… 19 【圖2-8】 電子在氯化鉀(KCl)離子晶體中移動示意圖 ……… 23 【圖2-9】 一維自旋波示意圖 …………………………………… 27 【圖2-10】Seebeck效應示意圖 ………………………………… 29 【圖2-11】Mn3+與Mn4+高溫與低溫的自旋軌道簡併度示意圖 30 【圖3-1】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3製作流程圖 ……………… 34【圖3-2】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3(x=0)的X-Ray繞射圖 … 35 【圖3-3】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3的晶體結構示意圖 …… 35 【圖3-4】ZrO2的X-Ray繞射示意圖 ………………………… 36
【圖4-1】Gsas軟體圖 …………………………………………… 41 【圖4-2】四點量測法示意圖 …………………………………… 42 【圖4-3】四點量測法等效電路示意圖 ………………………… 43 【圖4-4】溫度計與控制器連接示意圖 ………………………… 45 【圖4-5】自製樣品量測桿示意圖 ……………………………… 46 【圖4-6】樣品裝載圖(a)正面俯視圖,(b)剖面圖 ……………46 【圖4-7】液氦儲存桶內部構造示意圖 ………………………… 47 【圖4-8】連接鎖相放大器外部線路示意圖 …………………… 49 【圖4-9】PPMS杜瓦瓶示意圖 ………………………………… 50 【圖4-10】 Sample Tube示意圖 ………………………………… 52 【圖4-11】 液態氦容量測量示意圖 …………………………… 53 【圖4-12】Sample Tube構造示意圖 …………………………… 57 【圖4-13】 PPMS磁場模式示意圖 …………………………… 60 【圖4-14】CoilSet Puck外觀示意圖 …………………………… 61 【圖4-15】CoilSet Puck內部構造圖 …………………………… 62 【圖4-16】Sample Tube外觀示意圖 …………………………… 62
【圖4-17】 VSM裝置到PPMS示意圖 ………………………… 63
【圖4-18】Linear Motor Transport外觀示意圖 ………………64 【圖4-19】Linear Motor Transport內部構造圖 ……………… 65 【圖4-20】Sample Rod示意圖 ………………………………… 65 【圖4-21】Sample holder示意圖 ……………………………… 67 【圖4-22】樣品接腳裝置圖 …………………………………… 68 【圖4-23】Shoe assembly實體圖 ……………………………… 69 【圖4-24】熱電量測裝置實體圖 ……………………………… 70 【圖5-1】x = 0之結構精算圖 ……………………………… 73 
【圖5-2】x = 0.02之結構精算圖 ……………………………… 73 【圖5-3】x = 0.04之結構精算圖 ……………………………… 74 【圖5-4】x = 0.06之結構精算圖 ……………………………… 74 【表5-1】晶格常數與摻雜量關係圖 …………………………… 75 【圖5-5】摻雜濃度對晶格常數的變化圖 ……………………… 76 【圖5-6】(a)Mn-O鍵長與(b)室溫電阻率關係圖 …………… 76 【圖5-7】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3(x=0~0.06)之主峰繞射放大圖77
 【表5-2】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3 (x=0~0.06) 各項特殊溫度79
 【圖5-8】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3 (x=0~0.06) 零場冷的磁化強度與溫度的關係圖(H = 100G) ……………………………… 80【圖5-9】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3 (x=0~0.06) 零場冷的磁化強度與溫度的關係圖(H = 1000G) …………………………… 80
【圖5-10】零場冷的磁化強度與溫度於溫度50 K附近放大圖(H = 1000G) ………………………………………………… 81 
【圖5-11】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3 (x=0~0.06) 電阻率對溫度的關係圖 …………………………………………………… 84 
【圖5-12】La0.85Zr0.15(Mn1-xGax)O3 (x=0~0.06)電阻率對溫度的關係圖 (H = 5T) ……………………………………………… 84 【圖5-13】La0.7Ce0.3MnO3塊材樣品的電阻對溫度關係圖 … 85 【圖5-14】La0.85Zr0.15MnO3塊材樣品變磁場的電阻對溫度關係圖 …………………………………………………… 85 
【圖5-15】La0.85Zr0.15MnO3薄膜樣品變磁場的電阻對溫度關係圖 …………………………………………………… 86 
【圖5-16】MR比值對溫度之關係圖 …………………………… 86 【表5-3】高溫部分未加場與加場使用小偏極子彌合相關參數… 88 【圖5-17】在高溫部分使用小偏極子彌合示意圖 …………… 88 【圖5-18】在高溫部分使用小偏極子彌合示意圖H = 5T … 89 
【表5-4】中間溫區未加場與加場使用小偏極子彌合相關參數 90 【圖5-19】中間溫區使用電子-磁振子散射彌合示意圖 ……… 91【圖5-20】中間溫區使用電子-磁振子散射彌合示意圖H = 5T 91 【圖5-21】在低溫使用3D-VRH彌合示意圖 …………………… 93 【圖5-22】在低溫使用3D-VRH彌合示意圖H = 5T ……… 93 
【表5-5】低溫區域使用三維3D-VRH所得相關參數 … 94 
【圖5-23】Seebeck係數對溫度關係圖 ………………………… 96 【圖5-24】Seebeck係數對溫度關係圖H = 5T ………………… 96 【圖5-25】Seebeck係數對溫度的負一次方關係圖 …………… 97 【圖5-26】(La1-xPrx)0.85Zr0.15MnO3對Mn離子所作的吸收光譜圖 97
【圖5-27】Seebeck係數在高溫使用小偏極子彌合示意圖 …… 99 【圖5-28】Seebeck係數在高溫使用小偏極子彌合示意圖H = 5T 99 【表5-6】高溫部分小偏極彌合之各項參數 …………………… 100 【表5-7】中間溫區使用電子-磁振子散射彌合相關參數 …… 101 【圖5-29】Seebeck在中間溫區使用電子-磁振子散射彌合示意圖 …………………………………………………… 102 
【圖5-30】Seebeck在中間溫區使用電子-磁振子散射彌合示意圖H = 5T ………………………………………………… 102 
【圖5-31】Seebeck係數在低溫使用3D-VRH彌合示意圖 …… 103 【圖5-32】Seebeck係數在低溫使用3D-VRH彌合示意圖H = 5T 104
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