PD(Power Delivery，快速充電)技術逐漸成為近來電子產品的標準配備，本論文針對PD晶片裡面I2C（Inter-Integrated Circuit，積體匯流排電路）訊號的錯誤檢測方式提出以軟體方法代替人工提升效率。透過數學分析軟體MATLAB（Matrix Laboratory）從標準的I2C訊號與未知的I2C輸入訊號中找尋其相關性大小，並繪製成圖形，一方面能從量化的數據觀察最大值與平均值之間的規律性，另一方面能從圖形直接的觀察其差異性，並且能使兩者結果相互印證。

PD (Power Delivery) technology has gradually become the standard equipment of recent electronic products. This paper proposes to use software methods instead of manual methods to improve efficiency for the failure inspection of I2C (Inter-Integrated Circuit) signals in PD chips. Through the mathematical analysis software MATLAB, find the correlation between the standard I2C signal and the unknown I2C input signal, and draw it into a graph. The regularity between the maximum value and the average value can be observed from the quantified data, on the other hand the difference can be directly observed from the graph, and the results of both can be confirmed to each other.

目錄
第1章 序論	1
1.1研究動機	1
1.2研究目的	2
1.3研究方法	2
1.4文獻探討	2
1.41 USB-C介紹	2
1.42 CCG Host Processor Interface介紹	3
1.43 I2C介紹	4
第2章 實習公司背景	5
2.1公司簡介	5
2.2部門簡介	6
第3章 USB-C Power Delivery訊號檢測方法	7
3.1硬體設備	7
3.2軟體設備	8
3.3環境架構	9
3.4擷取過程	10
第4章 USB-C Power Delivery訊號軟體檢測方法	12
4.1實驗流程	12
4.2實驗說明	12
4.3實驗環境	14
4.4實驗結果	15
第5章 結論	33
5.1結論	33
5.2未來展望	33
參考資料	34

圖目錄
圖 1. USB連結埠 [4] ( TI USB-C PD Training_for IEC_20210303)	 
      1
圖 2. USB-C一體化整合介面 [3] ( PD_Training_Vincent_20180904)	 
      3
圖 3. Host Processor <-> CCG hardware interface [2] (CCG5- 
      hpi-spec_verI_100217)	3
圖 4. I2C write sequence [2] (CCG5-hpi-spec_verI_100217)	 
      4
圖 5. I2C read sequence [2] (CCG5-hpi-spec_verI_100217)	4
圖 6. 新桃科廠 [1] (英業達集團)	5
圖 7. 全球佈局 [1] (英業達集團)	6
圖 8. 邏輯分析儀 [5] (Saleae Website)	7
圖 9. debug board	7
圖 10. socket	8
圖 11. debug board電路佈線圖 [1] (英業達集團)	8
圖 12. Saleae Logic的使用者介面	9
圖 13. 擷取環境：圖左為控制機台，圖右為待測機台	9
圖 14. 使用者介面設定	10
圖 15. 擷取過程	11
圖 16. HP USB-C Dock G5	12
圖 17. 簡單範例	14
圖 18. 圖形範例	14
圖 19. 實驗環境:圖左為控制機台;圖右為待測機台	15
圖 20. 第一筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	16
圖 21. 第二筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	16
圖 22. 第三筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	17
圖 23. 第四筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	17
圖 24. 第五筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	18
圖 25. 第六筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	18
圖 26. 第七筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	19
圖 27. 第八筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	19
圖 28. 第九筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	20
圖 29. 第十筆Pass與輸入訊號S相關性比較圖	20
圖 30. 第一筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	21
圖 31. 第二筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	21
圖 32. 第三筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	22
圖 33. 第四筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	22
圖 34. 第五筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	23
圖 35. 第六筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	23
圖 36. 第七筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	24
圖 37. 第八筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	24
圖 38. 第九筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	25
圖 39. 第十筆Fail與輸入訊號S相關性比較圖	25

表目錄
表 1. 第一筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	26
表 2. 第二筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	26
表 3. 第三筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	26
表 4. 第四筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	27
表 5. 第五筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	27
表 6. 第六筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	27
表 7. 第七筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	28
表 8. 第八筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	28
表 9. 第九筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	28
表 10. 第十筆Pass與輸入訊號S最大值與平均值	29
表 11. 第一筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	29
表 12. 第二筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	29
表 13. 第三筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	30
表 14. 第四筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	30
表 15. 第五筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	30
表 16. 第六筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	31
表 17. 第七筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	31
表 18. 第八筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	31
表 19. 第九筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	32
表 20. 第十筆Fail與輸入訊號S最大值與平均值	32

[1]英業達集團首頁, https://www.inventec.com/tw/index
[2]CCG5-hpi-spec_verI_100217.pdf, https://www.cypress.com/
[3]PD_Training_Vincent_20180904.pptx, https://www.hp.com/tw-zh/home.html
[4]TI USB-C PD Training_for IEC_20210303.pptx, https://www.ti.com/
[5]Saleae Website, https://www.saleae.com/
[6]劉保住、蘇彥華、張宏林(2010)。《MATLAB 7.0從入門到精通》。人民郵電出版社。
[7]Fisher, R.A. Statistical Methods for Research Workers, 13th Ed., Hafner, 1958.
[8]Kendall, M.G. The Advanced Theory of Statistics, 4th Ed., Macmillan, 1979.
[9]Press, W.H., Teukolsky, S.A., Vetterling, W.T., and Flannery, B.P. Numerical Recipes in C, 2nd Ed., Cambridge University Press, 1992.
[10]王忠誠(2007)。《超級芯片I2C總線彩電分析·調整·檢修》。電子工業出版社。