系統識別號 | U0002-0906200916304100 |
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DOI | 10.6846/TKU.2009.00216 |
論文名稱(中文) | 雙參數指數分配產品的壽命績效指標在多重型II設限下之統計檢定程序 |
論文名稱(英文) | Computational Testing Algorithmic Procedure of Assessment for Lifetime Performance Index of Products with Two-parameter Exponential Distribution Based on the Multiply Type II Censored Sample. |
第三語言論文名稱 | |
校院名稱 | 淡江大學 |
系所名稱(中文) | 統計學系碩士班 |
系所名稱(英文) | Department of Statistics |
外國學位學校名稱 | |
外國學位學院名稱 | |
外國學位研究所名稱 | |
學年度 | 97 |
學期 | 2 |
出版年 | 98 |
研究生(中文) | 邱謙茹 |
研究生(英文) | Chien-Ju Chiu |
學號 | 696650174 |
學位類別 | 碩士 |
語言別 | 繁體中文 |
第二語言別 | |
口試日期 | 2009-06-05 |
論文頁數 | 83頁 |
口試委員 |
指導教授
-
吳淑妃
委員 - 王智立 委員 - 吳錦全 |
關鍵字(中) |
多重型II設限 雙參數指數分配 加權動差估計量 製程能力指標 |
關鍵字(英) |
Multiply Type II Censoring Two-parameter Exponential Distribution Weighted Moment Estimator Process capability index |
第三語言關鍵字 | |
學科別分類 | |
中文摘要 |
近年來,產品品質的評估、控管與改善變成生產廠商的一個非常重要的課題。在實務上,已經發展了很多種方法來評估產品的品質能力,製程能力指標(process capability indices, PCIs)就是其中一種方法。大部分的PCIs皆是在常態分配的假設下發展或研究的,但產品壽命往往服從非常態分配,例如指數(exponential)、伽瑪(gamma)或者是韋伯(Weibull)分配等,所以本研究考慮雙參數指數分配。而在壽命試驗中常因成本、時間、人為疏失或其他限制而導致無法取得完整的樣本資料。本文的研究目的即在多重型II設限(multiply type II censoring)下評估產品壽命在服從雙參數指數分配(two-parameter exponential distribution)的壽命績效。 本研究使用了十四個估計量包括十二個加權動差估計量(weighted moments estimators, WMEs)、近似最大概似估計量(AMLE)和最佳線性不偏估計量(BLUE)去估計尺度參數 ,代入壽命績效指標 後以估計 ,在點估計方面,我們研究了這十四種壽命績效指標估計量的偏誤(Bias)與均方差(MSE),在最小均方差的準則下,選出最佳的估計量。而且在規格下界 為已知的情況下,我們提出一個假設檢定的演算程序,以檢定產品之壽命績效指標是否達到給定的水準。最後,我們提供了兩個數值實例,來示範如何利用多重型II設限樣本,檢定產品之壽命績效指標是否達到所要求的水準。 表單編號:ATRX-Q03-001-FM030-01 |
英文摘要 |
In recent years, it's an important issue for manufacturers to assess, monitor and improve product quality and performance. Process capability indices (PCIs) are used to evaluate whether product quality meets the required level in many industries. Since the lifetime of products may not be normal distribution and it may follow an exponential, gamma or Weibull distribution, etc. On the other hand, the experimenters may not be able to obtain the lifetime of all products which are put on test due to the limitation of cost, time or artificial difficulties in data collection. Therefore, we assess the lifetime performance index of products for a two-parameter exponential distribution base on the multiply type II censored samples. We use 14 estimators including 12 weighted moments estimators (WMEs), approximate maximum likelihood estimator (AMLE) and best linear unbiased estimator (BLUE) to estimate the scale parameter and then we can obtain 14 estimators of the process capability index . The bias and mean square error(MSE) of 14 estimators are simulated and the optimal estimator is identified in the sense of minimum MSE. We also propose a hypothesis testing algorithmic procedure for practitioners to determine whether the lifetime of products meet the required level. Finally, two real-life examples are given to demonstrate the testing algorithmic procedure. 表單編號:ATRX-Q03-001-FM031-01 |
第三語言摘要 | |
論文目次 |
目錄 第一章 緒論 1 1.1 研究動機與目的 1 1.2 文獻探討 3 1.3 本文架構 4 第二章 壽命績效指標與其估計 6 2.1 產品的壽命績效指標 6 2.2 壽命績效指標的估計量 9 第三章 壽命績效指標的估計準確度和檢定演算程序 6 3.1 壽命績效指標估計量之偏誤與均方差 15 3.2 壽命績效指標的檢定演算程序 17 3.3 壽命績效指標的檢定力 20 第四章 數值實例示範 37 第五章 結論與建議 45 5.1 結論 45 5.2 未來展望 45 參考文獻 47 附錄一 50 表目錄 表4-1 (數值實例1)樣本大小n=12、規格下界L=3.525及 alpha=0.05之C_{t}^*值 41 表4-2 (數值實例1)樣本大小n=12、規格下界L=3.525及 alpha=0.01之C_{t}^*值 42 表4-3 (數值實例2)樣本大小n=24、規格下界L=3.525及 alpha=0.05之C_{t}^*值 43 表4-4 (數值實例2)樣本大小n=24 、規格下界L=3.525及 alpha=0.01之C_{t}^*值 44 附表2-1 壽命績效指標值CL對應之良品率Pr 50 附表2-2 當(n,lambda,theta)=(12,1,1),以WMEs、AMLE和BLUE模擬 100萬次平均值估計尺度參數lambda 51 附表2-3 當(n,lambda,theta)=(24,1,1),以WMEs、AMLE和BLUE模擬 100萬次平均值估計尺度參數lambda 52 附表2-4 當(n,lambda,theta)=(36,1,1),以WMEs、AMLE和BLUE模擬 100萬次平均值估計尺度參數lambda 53 附表3-1 當(n,lambda,theta)=(12,1,1),壽命績效指標估計之偏誤 除以規格下界 54 附表3-2 當(n,lambda,theta)=(24,1,1),壽命績效指標估計之偏誤 除以規格下界 55 附表3-3 當(n,lambda,theta)=(36,1,1),壽命績效指標估計之偏誤 除以規格下界 56 附表3-4 當(n,lambda,theta)=(12,1,1),壽命績效指標估計之均方 誤除以規格下界的平方 57 附表3-5 當(n,lambda,theta)=(24,1,1),壽命績效指標估計之均方 誤除以規格下界的平方 58 附表3-6 當(n,lambda,theta)=(36,1,1),壽命績效指標估計之均方 誤除以規格下界的平方 59 附表3-7 當(n,lambda,theta)=(12,1,1),樞紐量 之右尾0.05分位 數 60 附表3-8 當(n,lambda,theta)=(24,1,1),樞紐量 之右尾0.01分位 數 61 附表3-9 當(n,lambda,theta)=(36,1,1),樞紐量 之右尾0.05分位 數 62 附表3-10 當(n,lambda,theta)=(12,1,1),樞紐量 之右尾0.01分位 數 63 附表3-11 當(n,lambda,theta)=(24,1,1),樞紐量 之右尾0.05分位 數 64 附表3-12 當(n,lambda,theta)=(36,1,1),樞紐量 之右尾0.01分位 數 65 附表3-13 當(n,lambda,theta)=(12,1,1)、,樞紐量之右尾0.05分位 數除以尺度參數估計量之值 66 附表3-14 當(n,lambda,theta)=(24,1,1)、,樞紐量之右尾0.01分位 數除以尺度參數估計量之值 67 附表3-15 當(n,lambda,theta)=(36,1,1)、,樞紐量之右尾0.05分位 數除以尺度參數估計量之值 68 附表3-16 當(n,lambda,theta)=(12,1,1)、,樞紐量之右尾0.01分位 數除以尺度參數估計量之值 69 附表3-17 當(n,lambda,theta)=(24,1,1)、,樞紐量之右尾0.05分位 數除以尺度參數估計量之值 70 附表3-18 當(n,lambda,theta)=(36,1,1)、,樞紐量之右尾0.01分位 數除以尺度參數估計量之值 71 附表3-19 當n=12,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 72 附表3-20 當n=12,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 73 附表3-21 當n=12,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 74 附表3-22 當n=12,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 75 附表3-23 當n=24,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 76 附表3-24 當n=24,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 77 附表3-25 當n=24,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 78 附表3-26 當n=24,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 79 附表3-27 當n=36,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 80 附表3-28 當n=36,c=0.8及alpha=0.05下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 81 附表3-29 當n=36,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下AMLE估 計法之檢定力h(c1) 82 附表3-30 當n=36,c=0.8及alpha=0.01下,在不同設限計畫下BLUE估 計法之檢定力h(c1) 83 圖目錄 圖3.1 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(2,5,2,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 22 圖3.2 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(2,5,2,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 22 圖3.3 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(3,5,2,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 23 圖3.4 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(3,5,2,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 23 圖3.5 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(3,5,1,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 24 圖3.6 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(2,5,2,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 24 圖3.7 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(2,5,3,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 25 圖3.8 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(2,5,3,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 25 圖3.9 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(2,5,1,3)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 26 圖3.10 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(2,5,1,3)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 26 圖3.11 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(1,5,3,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 27 圖3.12 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(1,5,3,2)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 27 圖3.13 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(1,5,2,3)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 28 圖3.14 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(1,5,2,3)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 28 圖3.15 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(4,5,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 29 圖3.16 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(4,5,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 29 圖3.17 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(1,5,4,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 30 圖3.18 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(1,5,4,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 30 圖3.19 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(1,5,1,4)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 31 圖3.20 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(1,5,1,4)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 31 圖3.21 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(1,5,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 32 圖3.22 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(1,5,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 32 圖3.23 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(0,6,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 33 圖3.24 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(0,6,1,1)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 33 圖3.25 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(6,3,0,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 34 圖3.26 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(6,3,0,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 34 圖3.27 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(3,3,0,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 35 圖3.28 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(3,3,0,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 35 圖3.29 當alpha=0.05、(r,k,l,s)=(0,3,6,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 36 圖3.30 當alpha=0.01、(r,k,l,s)=(0,3,6,0)下,對不同樣本 n=(12,24,36)時,AMLE及BLUE估計法的檢定力函數 36 |
參考文獻 |
【1】 Absoft Fortran (Inclusive of IMSL) 6.6, (2000) Copyright (c). Absoft Crop. 【2】 Anderson, D.R., Sweeney, D.J. and Williams, T.A. (1990), Statistics for Business and Economics, West Publishing Company, Saint Paul, MN. 【3】 Balakrishnan, N. (1990), On the maximum likelihood estimation of the location and scale parameters of exponential distribution based on multiply Type II censored samples, Journal of Applied Statistic, 17, 55-61. 【4】 Balakrishnan, N. and Cohen, C. A. (1991), Order Statistics and Inference, Academic Press, Inc. 【5】 Balasubramanian, K. and Balakrishnan, N. (1992), Estimation for one- and two-parameter exponential distributions under multiple type II censoring, Statistical Papers, 33, 203-216. 【6】 Boyles, R. A. (1991), The Taguchi Capability Index, Journal of Quality Technology, 23, 17-26. 【7】 Chan, L. K. , Cheng, S. W. and Spiring, F. A. (1988), A New Measure of Process Capability: , Journal of Quality Technology, 20(3), 162-175. 【8】 Chang, P. L. and Lu, K. H. (1994), PCI calculations for any shape of distribution with percentile, Quality World Technical Supplement, September, 110-114. 【9】 Clement, J. A. (1989), Process capability calculations for non-normal distribution, Quality Progress, 22, vol. September, 95-100. 【10】 Cohen, A. C. (1963), Progressively censored samples in the life testing, Technometrics, 5, 327- 339. 【11】 Epstein, B. and Sobel, M. (1953), Life-testing, Journal of American Statistical Association, 48, 486–502. 【12】 Gill M.H. and Gastwirth J.L. (1978), A Sacle-Free Goodness-of-Fit Test for the Exponential Distribution Based on the Gini Statistic, Journal of the Royal Statistical Society, Series B (Methodological), 40, 350-357. 【13】 Johnson, N. L., Kotz, S., and Balakrishnan, N, (1994), Continuous Univariate Distributions, (2nd ed), vol.1, Wiley, New York. 【14】 Kane, V. E. (1986), Process capability indices, Journal of Quality Technology, 18, 41-52. 【15】 Keller, G., Warrack, B. and Bartel, H. (1994), Statistics for Management and Economics, Duxbury Press, Belmont, CA. 【16】 Lawless, J. F. (1971), A prediction problem concerning samples form the exponential distribution with application in life testing, Technometrics, 13, 725-730 【17】 Lawless, J. F. (2003), Statistical Models & Methods for Lifetime Data, (2nded), New York, John Wiley. 【18】 Meyer, P. L. (1965), Introductory Probability and Statistical Applications, Addison-Wesley, Reading, MA. 【19】 Montgomery, D. C. (1985), Introduction to Statistical Quality Control, John Wiley & Sons, New York. 【20】 Peran, W. L. and Kotz, S. and Johnson, N. L. (1992), Distributional and Inferential Properties of Process Capability Indices, Journal of Quality Technology, 24(4), 216-223. 【21】 Pearn, W. L. and Chen, K. S. (1997), Capability indices for non-normal distributions with an application in electrolytic capacitor manufacturing, Microelectro Reliability, 37(12), 1853-8. 【22】 Proschan, F. (1963), Theoretical Explanation of Observed Decreasing Failure Rate, Technometrics, 5(3), 375-383 【23】 Tong, L. I., Chen, K. S. and Chen, H. T. (2002), Statistical testing for assessing the performance of lifetime index of electronic components with exponential distribution, Introduction Journal of Quality and Reliability Management, 19, 812-824. 【24】 Wu, J, W. and Yang, C. C. (2002), Weighted Moments Estimation of The Scale Parameter of The Exponential Distribution Based on a Multiply Type II Censored Sample, Quality and Reliability Engineering International, 18, 149-154. 【25】 Wu, J, W., Lee, W. C. and Chen S. C. (2005), Prediction intervals of future observation from one-parameter exponential distribution based on multiply type II censored samples, Applied Mathematics and Computation, 167 ,741–806. 【26】 Wu, J, W., Lee, H. C. and Lei C. L. (2007), Computational testing algorithmic procedure of assessment for lifetime performance index of products with two-parameter exponential distribution, Applied Mathematics and Computation, 190, 116–125. 【27】 Wu, J, W., Lee, W. C. and Chen S. C. (2007), Computational comparison of prediction intervals of future observation for two-parameter exponential distribution, Applied Mathematics and Computation, 184 ,1084–1117. |
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