系統識別號 | U0002-0507201712423300 |
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DOI | 10.6846/TKU.2017.00144 |
論文名稱(中文) | 一次性設備的最佳設計與可靠度抽樣計畫 |
論文名稱(英文) | Optimal Designs and Reliability Sampling Plans for One-Shot Devices |
第三語言論文名稱 | |
校院名稱 | 淡江大學 |
系所名稱(中文) | 統計學系應用統計學碩士班 |
系所名稱(英文) | Department of Statistics |
外國學位學校名稱 | |
外國學位學院名稱 | |
外國學位研究所名稱 | |
學年度 | 105 |
學期 | 2 |
出版年 | 106 |
研究生(中文) | 徐竺君 |
研究生(英文) | HSU, CHU-CHUN |
學號 | 604650209 |
學位類別 | 碩士 |
語言別 | 繁體中文 |
第二語言別 | |
口試日期 | 2017-06-16 |
論文頁數 | 45頁 |
口試委員 |
指導教授
-
吳碩傑
委員 - 張春桃 委員 - 陳麗霞 |
關鍵字(中) |
加速壽命試驗 廣義指數分配 最大概似法 敏感度分析 D型最適性 允收抽樣 |
關鍵字(英) |
Accelerated life testing Generalized exponential distribution Maximum likelihood method Sensitivity analysis D-optimality Acceptance sampling |
第三語言關鍵字 | |
學科別分類 | |
中文摘要 |
不同於傳統的壽命試驗方式,一次性設備的壽命資料只有 左設限與右設限。而隨著現在的工業技術越來越發達,產品具 有高壽命與高可靠度的特性,所以我們通常會使用加速壽命試 驗,使元件早期失效以便於我們更快收集到元件的壽命資訊。 本研究係以一次性設備在加速壽命試驗下,做出元件壽命為廣 義指數分配的參數估計,並且討論以下兩個主題: 第一個主題是在壽命試驗中,收集越多關於元件的壽命資 訊,我們越能有效評估元件的可靠度。但如果要獲得更多的壽 命資訊,實驗成本就會增加,而實驗成本常會影響整個實驗的 規模。因此,我們給定成本預算的限制下,採用 D 型最適性的 最佳化準則,找出最佳的實驗配置。 可靠度是產品重要的品質特徵,可靠度越大代表其品質越 好。抽樣檢查即是常見用來判斷一批貨是否可被允收的方法, 如何決定實驗配置與允收臨界值將會影響整體的實驗結果。因 此,第二個主題是我們給定生產者風險與消費者風險下,建立 一個使得成本最小的可靠度抽樣計畫。 |
英文摘要 |
Unlike the conventional life testing experiments, the lifetime data col- lected in a one-shot device test are always left or right censoring. With the development of technology, the products with high reliability usually can work for a long time. In order to quickly obtain lifetime data, the accelerated life tests are usually conducted. In this study, we will investigate some problems related to accelerated life test with one-shot device testing. A generalized exponential lifetime distribution at each stress-level combination is considered. There are two main topics: To conduct a one-shot device accelerated life test more efficiently, one has to address the problem of determining optimal setting that produces the best estimation results. One practical problem arising from designing such a test is the budget of experiment. The size of budget always affects the decision of experimental setting and hence, affects the precision of estimation. Therefore, the first topic of this study is to determine the optimal experimental setting under D-optimality criterion with cost constraint. Reliability sampling is an important statistical tool in the area of quality control. It is used to make determination on accepting or rejecting a lot of product. The second topic of this study is to explore the optimal design of sampling plan and critical point to minimize the total cost incurred in conducting a reliability sampling plan under one-shot device accelerated life test with desired producer’s and consumer’s risks. |
第三語言摘要 | |
論文目次 |
目錄 第一章 緒論 1 1.1 研究目的與動機 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1.2 文獻探討 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 1.3 本文架構 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 第二章 模式與分配 8 2.1 實驗方式 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 2.2 模式與參數估計 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 第三章 成本限制下的最佳設計 16 3.1 成本函數及最佳設計準則 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 3.2 數值分析 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20 3.3 敏感度分析 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21 3.3.1 模式參數對最佳解的影響 . . . . . . . . . . . . . . . 21 3.3.2 成本參數對最佳解的影響 . . . . . . . . . . . . . . . 22 第四章 一次性設備的可靠度抽樣計畫 30 4.1 可靠度抽樣計畫 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30 4.2 總成本最小化的可靠度抽樣計畫 . . . . . . . . . . . . . . . . 34 4.3 數值分析 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35 第五章 結論 41 參考文獻 43 表格目錄 表 2.1 一次性設備加速壽命試驗資料 . . . . . . . . . . . . . . . . 9 表 2.2 一次性設備加速壽命試驗資料 . . . . . . . . . . . . . . . . 12 表 3.1 一次性設備樣本 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20 表 3.2 a 0 = −5.2676 及不同的 a 1 與 ν 下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 24 表 3.3 a 0 = −4.5974 及不同的 a 1 與 ν 下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 25 表 3.4 a 0 = −3.9273 及不同的 a 1 與 ν 下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 26 表 3.5 a 0 = −3.2572 及不同的 a 1 與 ν 下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 27 表 3.6 a 0 = −2.587 及不同的 a 1 與 ν 下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 28 表 3.7 不同成本參數下的最佳 (N 1 ,N 2 ,N 3 ,d) 組合 . . . . . . . . . 29 表 4.1 使總成本最小的允收臨界值 C 與實驗配置 (N,τ) , α = 0.05 , β = 0.05 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37 表 4.2 使總成本最小的允收臨界值 C 與實驗配置 (N,τ) , α = 0.05 , β = 0.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38 表 4.3 使總成本最小的允收臨界值 C 與實驗配置 (N,τ) , α = 0.1 , β = 0.05 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39 表 4.4 使總成本最小的允收臨界值 C 與實驗配置 (N,τ) , α = 0.1 , β = 0.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40 |
參考文獻 |
參考文獻 Bai, D. S., Chun, Y. R. and Kim, J. G. (1995). Failure-censored acceler- ated life test sampling plans for Weibull distribution under expected test time constraint, Reliability Engineering and System Safety, 50, 61-68. Balakrishshnan, N. and Ling, M. H. (2012a). EM algorithm for one- shot device testing under exponential distribution, Computational Statistics and Data Analysis, 56, 502-509. Balakrishshnan, N. and Ling, M. H. (2012b). Multiple-stress model for one-shot device testing data under exponential distribution, IEEE Transactions on Reliability, 61, 809-821. Balakrishshnan, N. and Ling, M. H. (2013). Expectation maximization algorithm for one shot device accelerated life testing with Weibull lifetimes, and variable parameters over stress, IEEE Transactions on Reliability, 62, 537-551. Balakrishshnan, N. and Ling, M. H. (2014a). Gamma lifetimes and one-shot device testing analysis, Reliability Engineering and System Safety, 126, 54-64. Balakrishshnan, N. and Ling, M. H. (2014b). Best constant-stress accel- erated life-test plans with multiple stress factors for one-shot device testing under a Weibull distribution, IEEE Transactions on Relia- bility, 63, 944-952. Chung, S. W., Seo, Y. S. and Yun, W. Y. (2006). Acceptance sam- pling plans based on failure-censored step-stress accelerated tests for Weibull distributions, Journal of Quality in Maintenance Engi- neering, 12, 373-396. Fan, T. H., Balakrishshnan, N. and Chang, C. C. (2009). The Bayesian approach for highly reliable electro-explosive devices using one-shot device testing, Journal of Statistical Computation and Simulation, 79, 1143-1154. Huang, S.-R. and Wu, S.-J. (2008). Reliability sampling plans under pro- gressive type-I interval censoring using cost functions, IEEE Trans- actions on Reliability, 57, 445-451. Li, X., Dao, P. and Sun, F. (2015). Acceptance sampling plan of accel- erated life testing for lognormal distribution under time-censoring, Chinese Journal of Aeronautics, 28, 814-821. Meeker, W. Q. and Escobar, L. A. (1998). Statistical Methods for Reli- ability Data, New York: Wiley. Meeter, C. A. and Meeker, W. Q. (1994). Optimum accelerated life tests with a nonconstant scale parameter, Technometrics, 36, 71-83. Nelson, W. (1990). Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis, New York: Wiley. Seo, J. H., Jung, M. and Kim, C. M. (2009). Design of accelerated life test sampling plans with a nonconstant shape parameter, European Journal of Operational Research, 197, 659–666. |
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